- English
- Español
- Português
- русский
- Français
- 日本語
- Deutsch
- tiếng Việt
- Italiano
- Nederlands
- ภาษาไทย
- Polski
- 한국어
- Svenska
- magyar
- Malay
- বাংলা ভাষার
- Dansk
- Suomi
- हिन्दी
- Pilipino
- Türkçe
- Gaeilge
- العربية
- Indonesia
- Norsk
- تمل
- český
- ελληνικά
- український
- Javanese
- فارسی
- தமிழ்
- తెలుగు
- नेपाली
- Burmese
- български
- ລາວ
- Latine
- Қазақша
- Euskal
- Azərbaycan
- Slovenský jazyk
- Македонски
- Lietuvos
- Eesti Keel
- Română
- Slovenski
- मराठी
- Srpski језик
ສາເຫດທົ່ວໄປຂອງຄວາມເສຍຫາຍຕໍ່ກະດານຫຼັກ
2022-04-26
1 ການວິເຄາະສາເຫດຄວາມເສຍຫາຍຂອງໂປເຊດເຊີ
ຄວາມເສຍຫາຍຕໍ່ໂຮງງານຜະລິດ onboard ຂອງກະດານຫຼັກແມ່ນບັນຫາທີ່ຕ້ອງໄດ້ຮັບການເອົາໃຈໃສ່ໃນຂະບວນການນໍາໃຊ້ກະດານຫຼັກສໍາລັບການພັດທະນາຂັ້ນສອງ. ມັນສ່ວນໃຫຍ່ປະກອບມີ (ແຕ່ບໍ່ຈໍາກັດ) ສະຖານະການຕໍ່ໄປນີ້:
(1) ອຸປະກອນຕໍ່ພວງສະຫຼັບຮ້ອນ ຫຼື ໂມດູນພາຍນອກທີ່ມີການເປີດເຄື່ອງ, ເຊິ່ງກໍ່ໃຫ້ເກີດຄວາມເສຍຫາຍຕໍ່ໂປເຊດເຊີ onboard ຂອງກະດານຫຼັກ.
(2) ໃນເວລາທີ່ການນໍາໃຊ້ວັດຖຸໂລຫະໃນລະຫວ່າງການຂະບວນການ debugging, IO ຈະໄດ້ຮັບຜົນກະທົບຈາກຄວາມກົດດັນໄຟຟ້າເນື່ອງຈາກການສໍາພັດທີ່ບໍ່ຖືກຕ້ອງ, ເຮັດໃຫ້ເກີດຄວາມເສຍຫາຍຂອງ IO, ຫຼືການສໍາຜັດບາງອົງປະກອບຂອງກະດານຈະເຮັດໃຫ້ວົງຈອນສັ້ນທັນທີທັນໃດກັບດິນ, ເຮັດໃຫ້ເກີດຄວາມເສຍຫາຍ. ວົງຈອນທີ່ກ່ຽວຂ້ອງແລະກະດານຫຼັກ. ໂຮງງານຜະລິດເສຍຫາຍ.
(3) ໃຊ້ນິ້ວມືຂອງທ່ານແຕະໂດຍກົງໃສ່ແຜ່ນຫຼື pins ຂອງຊິບໃນລະຫວ່າງການຂະບວນການດີບັກ, ແລະໄຟຟ້າສະຖິດຂອງຮ່າງກາຍຂອງມະນຸດອາດຈະທໍາລາຍໂຮງງານຜະລິດ onboard ຂອງກະດານຫຼັກ.
(4) ມີສະຖານທີ່ທີ່ບໍ່ສົມເຫດສົມຜົນໃນການອອກແບບຂອງ baseboard ທີ່ເຮັດດ້ວຍຕົນເອງ, ເຊັ່ນ: ລະດັບ mismatch, ປະຈຸບັນການໂຫຼດຫຼາຍເກີນໄປ, overshoot ຫຼື undershoot, ແລະອື່ນໆ, ເຊິ່ງອາດຈະເຮັດໃຫ້ເກີດຄວາມເສຍຫາຍຕໍ່ໂຮງງານຜະລິດ onboard ຂອງຄະນະກໍາມະຫຼັກ.
(5) ໃນລະຫວ່າງການຂະບວນການ debugging, ມີການ debugging ສາຍຂອງການໂຕ້ຕອບ peripheral ໄດ້. ສາຍໄຟຜິດພາດ ຫຼື ປາຍສາຍໄຟອີກດ້ານໜຶ່ງຢູ່ໃນອາກາດເມື່ອມັນສຳຜັດກັບວັດສະດຸທີ່ນຳມາໃຊ້ອື່ນໆ, ແລະສາຍໄຟ IO ແມ່ນຜິດພາດ. ມັນໄດ້ຮັບຄວາມເສຍຫາຍຈາກຄວາມກົດດັນໄຟຟ້າ, ສົ່ງຜົນໃຫ້ຄວາມເສຍຫາຍຕໍ່ໂຮງງານຜະລິດ onboard ຂອງກະດານຫຼັກ.
2 ການວິເຄາະສາເຫດຂອງຄວາມເສຍຫາຍຂອງໂປເຊດເຊີ IO
(1) ຫຼັງຈາກໂປເຊດເຊີ IO ວົງຈອນສັ້ນທີ່ມີການສະຫນອງພະລັງງານຫຼາຍກ່ວາ 5V, ໂຮງງານຜະລິດຄວາມຮ້ອນຜິດປົກກະຕິແລະເສຍຫາຍ.
(2) ດໍາເນີນການປ່ອຍການຕິດຕໍ່ ±8KV ໃນໂປເຊດເຊີ IO, ແລະໂປເຊດເຊີຖືກທໍາລາຍທັນທີ.
ຄວາມເສຍຫາຍຕໍ່ໂຮງງານຜະລິດ onboard ຂອງກະດານຫຼັກແມ່ນບັນຫາທີ່ຕ້ອງໄດ້ຮັບການເອົາໃຈໃສ່ໃນຂະບວນການນໍາໃຊ້ກະດານຫຼັກສໍາລັບການພັດທະນາຂັ້ນສອງ. ມັນສ່ວນໃຫຍ່ປະກອບມີ (ແຕ່ບໍ່ຈໍາກັດ) ສະຖານະການຕໍ່ໄປນີ້:
(1) ອຸປະກອນຕໍ່ພວງສະຫຼັບຮ້ອນ ຫຼື ໂມດູນພາຍນອກທີ່ມີການເປີດເຄື່ອງ, ເຊິ່ງກໍ່ໃຫ້ເກີດຄວາມເສຍຫາຍຕໍ່ໂປເຊດເຊີ onboard ຂອງກະດານຫຼັກ.
(2) ໃນເວລາທີ່ການນໍາໃຊ້ວັດຖຸໂລຫະໃນລະຫວ່າງການຂະບວນການ debugging, IO ຈະໄດ້ຮັບຜົນກະທົບຈາກຄວາມກົດດັນໄຟຟ້າເນື່ອງຈາກການສໍາພັດທີ່ບໍ່ຖືກຕ້ອງ, ເຮັດໃຫ້ເກີດຄວາມເສຍຫາຍຂອງ IO, ຫຼືການສໍາຜັດບາງອົງປະກອບຂອງກະດານຈະເຮັດໃຫ້ວົງຈອນສັ້ນທັນທີທັນໃດກັບດິນ, ເຮັດໃຫ້ເກີດຄວາມເສຍຫາຍ. ວົງຈອນທີ່ກ່ຽວຂ້ອງແລະກະດານຫຼັກ. ໂຮງງານຜະລິດເສຍຫາຍ.
(3) ໃຊ້ນິ້ວມືຂອງທ່ານແຕະໂດຍກົງໃສ່ແຜ່ນຫຼື pins ຂອງຊິບໃນລະຫວ່າງການຂະບວນການດີບັກ, ແລະໄຟຟ້າສະຖິດຂອງຮ່າງກາຍຂອງມະນຸດອາດຈະທໍາລາຍໂຮງງານຜະລິດ onboard ຂອງກະດານຫຼັກ.
(4) ມີສະຖານທີ່ທີ່ບໍ່ສົມເຫດສົມຜົນໃນການອອກແບບຂອງ baseboard ທີ່ເຮັດດ້ວຍຕົນເອງ, ເຊັ່ນ: ລະດັບ mismatch, ປະຈຸບັນການໂຫຼດຫຼາຍເກີນໄປ, overshoot ຫຼື undershoot, ແລະອື່ນໆ, ເຊິ່ງອາດຈະເຮັດໃຫ້ເກີດຄວາມເສຍຫາຍຕໍ່ໂຮງງານຜະລິດ onboard ຂອງຄະນະກໍາມະຫຼັກ.
(5) ໃນລະຫວ່າງການຂະບວນການ debugging, ມີການ debugging ສາຍຂອງການໂຕ້ຕອບ peripheral ໄດ້. ສາຍໄຟຜິດພາດ ຫຼື ປາຍສາຍໄຟອີກດ້ານໜຶ່ງຢູ່ໃນອາກາດເມື່ອມັນສຳຜັດກັບວັດສະດຸທີ່ນຳມາໃຊ້ອື່ນໆ, ແລະສາຍໄຟ IO ແມ່ນຜິດພາດ. ມັນໄດ້ຮັບຄວາມເສຍຫາຍຈາກຄວາມກົດດັນໄຟຟ້າ, ສົ່ງຜົນໃຫ້ຄວາມເສຍຫາຍຕໍ່ໂຮງງານຜະລິດ onboard ຂອງກະດານຫຼັກ.
2 ການວິເຄາະສາເຫດຂອງຄວາມເສຍຫາຍຂອງໂປເຊດເຊີ IO
(1) ຫຼັງຈາກໂປເຊດເຊີ IO ວົງຈອນສັ້ນທີ່ມີການສະຫນອງພະລັງງານຫຼາຍກ່ວາ 5V, ໂຮງງານຜະລິດຄວາມຮ້ອນຜິດປົກກະຕິແລະເສຍຫາຍ.
(2) ດໍາເນີນການປ່ອຍການຕິດຕໍ່ ±8KV ໃນໂປເຊດເຊີ IO, ແລະໂປເຊດເຊີຖືກທໍາລາຍທັນທີ.
ໃຊ້ເກຍເປີດ-ປິດຂອງມັລຕິມິເຕີເພື່ອວັດແທກພອດໂປເຊດເຊີທີ່ເກີດກະແສໄຟຟ້າລັດວົງຈອນ 5V ແລະເສຍຫາຍຈາກ ESD. ມັນໄດ້ຖືກພົບເຫັນວ່າ IO ຖືກວົງຈອນສັ້ນໄປຫາ GND ຂອງໂປເຊດເຊີ, ແລະໂດເມນພະລັງງານທີ່ກ່ຽວຂ້ອງກັບ IO ກໍ່ຖືກວົງຈອນສັ້ນໄປຫາ GND.
ທີ່ຜ່ານມາ:ການອອກແບບຂອງກະດານຫຼັກ
